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Scanning Electron Microcopy
光學顯微鏡 電子顯微鏡（SEM）
[Tabletop SEM] [Year 2011 2nd Generation]-Low End Resolution: 5.0nm Magnification: 20x ~ 100,000x Stage: auto X, Y, T, R Interface: EDS, BSE
桌上型 SPECIFICATION EM-20、SPECIFICATION EM-30 （20X∼100,000X）
[Console SEM] [Year 2010 2nd Generation]-Middle End Resolution: 3.0nm Magnification: 10x ~ 300,000x Stage: auto X, Y, Z, T, R Interface: EDS, WDS, BSE
落地型 SPECIFICATION CX-200TA、SPECIFICATION CX-200TM （15X∼300,000X）
Sample Preparation : KIC-1A Ion Coater
○超過芯片離子鍍膜機 ○快速抽氣，不到三分鐘 ○從預設值的快速操作 ○自動真空控制 ○塗佈後全自動通風系統後 ○易於調整的樣品高度 ○目標材料的大小 : 直徑50mm ○Power: 220 VAC/60 Hz, 400 W ○離子電流 : 1~7 mA ○真空室尺寸 : 100毫米直徑. ○旋轉幫浦 : 100 liter/min. COXEM COXEM COXEM COXEM COXEM COXEM COXEM COXEM SEM SEM SEM SEM SEM SEM SEM SEM SEM SEM SEM SEM SEM 掃瞄式電子顯微鏡 掃瞄式電子顯微鏡 掃瞄式電子顯微鏡 掃瞄式電子顯微鏡 掃瞄式電子顯微鏡 掃瞄式電子顯微鏡 掃瞄式電子顯微鏡 掃瞄式電子顯微鏡 掃瞄式電子顯微鏡 |
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